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顯微鏡（LCT）7015245.jpg)
理視痕跡證據(jù)對(duì)比顯微鏡專為刑偵科學(xué)和其它科學(xué)設(shè)計(jì)，需要進(jìn)行毛發(fā)、纖維，涂料、植物碎屬和土壤或徽粒樣本材料的關(guān)鍵對(duì)比。
使用 L CT 痕跡證據(jù)對(duì)比顯微鏡可以實(shí)現(xiàn)兩個(gè)樣品的分割觀察、重疊觀察和獨(dú)立觀察。獨(dú)立的滑片控制可在 100 ％左系統(tǒng)圖像的到 100 腸右系統(tǒng)圖像的，或兩者之間任何位置進(jìn)行連續(xù)調(diào)整。一個(gè)止動(dòng)裝置位于右系統(tǒng)圖像的中心切割位置。左系統(tǒng)中心切割位置由用戶自行調(diào)整．這樣切割線寬度可根據(jù)顧客需要變更
高質(zhì)且的光學(xué)系統(tǒng)提供了無需操作者再調(diào)節(jié)的優(yōu)秀色彩和光強(qiáng)度平衡。大型的 22m 視場(chǎng)和正立非反轉(zhuǎn)圖像，與樣品在同一方向移動(dòng)，方便對(duì)于樣品的操控。
LcT 對(duì)比橋擁有出色的色彩和光強(qiáng)度平衡，如此就可使用單一光源和隨機(jī)校準(zhǔn)的、分支纖光引導(dǎo)，右兩邊圖像提供一致的照明。
采用模塊化設(shè)計(jì)方便傳輸和／或添加反射光配置。對(duì)比橋可用于明場(chǎng)、暗場(chǎng)、偏光、相位差、熒光和其它對(duì)比方法.
可添加雙視圖配件用干培訓(xùn)和咨詢時(shí)的同步證據(jù)查看。被照亮的 L 印箭頭方便指出樣本比對(duì)的位置。
緊湊設(shè)計(jì)讓設(shè)備占用極小的工作空間。單人可輕松操作兩臺(tái)顯微鏡，也可以進(jìn)行單個(gè)顯微鏡應(yīng)用例如在所有照明條件下對(duì)生物、醫(yī)學(xué)或化學(xué)樣品的調(diào)查。
圖像視圖：像場(chǎng)分割、疊加和獨(dú)立右／左視場(chǎng)；
從桌面到視點(diǎn)的高度： 19 ' ' ( 48cm ）和 23 ' ' ( 58cm )
長度，光學(xué)中心到光學(xué)中心 13 ? " ( 34cm )
設(shè)備尺寸： 26 " ( 66cm ）寬和 20 , ' ( 50cm ）高
兼容雙視圖附件和傾斜觀察管
模塊化設(shè)計(jì)
大型 22mm 視場(chǎng)
直立圖像
色彩和光強(qiáng)度平衡
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